CANLI
Yükleniyor Veriler getiriliyor…
SCI-Expanded Özgün Makale Scopus
Analysis of I V measurements on Ag p SnS and Ag p SnSe Schottky barriers
Solid-State Electronics 2002 Cilt 46 Sayı 1
Scopus Eşleşmesi Bulundu
35
Atıf
46
Cilt
49-52
Sayfa
Scopus Yazarları: Haluk Şafak, Mehmet Şahin, Ömer Faruk Yüksel
Özet
In this study, we have performed current-voltage (I-V) measurements on single crystals p-SnS and p-SnSe at different temperatures in the vicinity of room temperature. These compound semiconductors belong to IV-VI layered material class. Hence, they show strong anisotropy for all properties. We realized all measurements on the easy cleavage plane perpendicular c-axis. From I-V characteristics, we have tried to determine some intrinsic and contact properties such as barrier heights, diode ideality factors and carrier concentrations. It has been found that both contacts are in Schottky type, while Ag/p-SnSe structures has showed better diode behavior. © 2002 Elsevier Science Ltd. All rights reserved.
Anahtar Kelimeler (Scopus)
I-V characteristics IV-VI layered semiconductor compounds Schottky barriers

Anahtar Kelimeler

I-V characteristics IV-VI layered semiconductor compounds Schottky barriers

Makale Bilgileri

Dergi Solid-State Electronics
ISSN 00381101
Yıl 2002 / 1. ay
Cilt / Sayı 46 / 1
Sayfalar 49 – 52
Makale Türü Özgün Makale
Hakemlik Hakemli
Endeks SCI-Expanded
YÖKSİS Atıf 27
Yayın Dili İngilizce
Kapsam Uluslararası
Toplam Yazar 3 kişi
Erişim Türü Basılı+Elektronik
Erişim Linki Makaleye Git
Alan Fen Bilimleri ve Matematik Temel Alanı- Fizik

YÖKSİS Yazar Kaydı

Yazar Adı ŞAFAK HALUK,ŞAHİN MEHMET,YÜKSEL ÖMER FARUK
YÖKSİS ID 448749

Metrikler

YÖKSİS Atıf 27
Scopus Atıf 35
Yazar Sayısı 3